实用性SXJS-IV 抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗和电容容量的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点;本仪器针对电容式电压互感器(CVT)试验困难。

技术指标： 
1、实用性SXJS-IV 抗干扰介质损耗测试仪环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照） 
2、相对湿度：30%～70% 
3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz 
4、外形尺寸：长*宽*高=500mm*300mm*400mm 
5、重量：28kg 
6、输出功率：1.5KVA 
7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位） 
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF（10KV电压大于30000PF）
外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定 
10、基本测量误差： 
介质损耗（tgδ）：1%±0.04% 
电容容量（Cx）：1%±1pF
实用性SXJS-IV 抗干扰介质损耗测试仪工作原理：
仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路，如图三所示。 
标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并算出被测试品电容容值（CX）和介质损耗（tgδ）。

关键词：SXJS-IV抗干扰介质损耗测试仪，抗干扰介质损耗测试仪，介质损耗测试仪
数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳接地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、、可靠。

注意事项：

1、使用时必须将仪器接地端子可靠接地。
2、只有关闭仪器电源，内高压允许开关置于“关”位置时，接触仪器的后部及其测量线缆与被试品才被试品才被认为是安全的。
3、仪器在测量时，严禁操作“试验电压”选择开关。
4、正接线法UH端为高电压，反接线法IX端为高电压，使用时必须根据实际情况，将带高压的线缆与地保持足够的距离,特种电缆在试验电压低于10KV时除外。
5、不得更换不符合面板指示值的保险丝管。
6、使用时尽可能用厂家随仪器提供的线缆以确保测量准确度。

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